Technologie
Comment les scientifiques détectent les défauts atomiques dans les puces informatiques
Une équipe dirigée par Cornell a utilisé la ptychographie électronique pour imager pour la première fois les défauts de type « morsure de souris » à l'intérieur des puces de nouvelle génération. Voici comment fonctionne cette technique et pourquoi elle pourrait transformer la fabrication de semi-conducteurs.
Redakcia
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